We offer high-speed gauges for photodiode array spectroscopy, film thickness measurement and PVD plasma emission monitoring, specially for process measuring and control tasks. - Dipl.-Ing. (FH) Thomas Fuchs , Engineer's Office for Applied Spectroscopy TranSpec - Film Thickness Measurement and Plasma Monitoring

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TranSpec 2000 -- Software für die Optische Spektroskopie, Plasma-Emissionsüberwachunng und Schichtdickenmessung
 

TranSpec 2000 ist eine komfortable Spektrometrie-Software für Windows 2000/XP und ist speziell auf die Möglichkeiten der neuen TranSpec-DSP Spektrometer aus unserem Hause abgestimmt. TranSpec 2000 gestattet bei einfachster Bedienung selbst umfangreiche Messabläufe zur Schichtdickenmessung auf unseren Spektrometern zu konfigurieren und auszuführen.


Das Bild zeigt eine beispielhafte Fensteranordnung
zur Schichtdickenmessung mit TranSpec 2000.


TranSpec 2000 Produktinformation   TranSpec 2000 Produktinformation als PDF-Datei
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