We offer high-speed gauges for photodiode array spectroscopy, film thickness measurement and PVD plasma emission monitoring, specially for process measuring and control tasks. - Dipl.-Ing. (FH) Thomas Fuchs , Engineer's Office for Applied Spectroscopy TranSpec - Film Thickness Measurement and Plasma Monitoring

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TranSpec 2000 -- Software für die Optische Spektroskopie, Plasma-Emissionsüberwachunng und Schichtdickenmessung

 

TranSpec 2000 ist eine komfortable Spektrometrie-Software für Windows 2000/XP und ist speziell auf die Möglichkeiten der neuen TranSpec-DSP Spektrometer aus unserem Hause abgestimmt. TranSpec 2000 gestattet bei einfachster Bedienung der Software selbst umfangreiche Messabläufe auf unseren Spektrometer zu konfigurieren und auszuführen. Die Software eignet sich besonders für die Plasma-Emissionsüberwachung von PVD-Anlagen und zur Schichtdickenmessung.


Das Bild oben zeigt eine beispielhafte Fensteranordnung in TranSpec 2000 für die Plasma-Emissionsüberwachnung.


Das Bild oben zeigt eine beispielhafte Fensteranordnung zur Schichtdickenmessung mit TranSpec 2000.



TranSpec 2000 Produktinformation
   TranSpec 2000 Produktinformation als PDF-Datei


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