We offer high-speed gauges for photodiode array spectroscopy, film thickness measurement and PVD plasma emission monitoring, specially for process measuring and control tasks. - Dipl.-Ing. (FH) Thomas Fuchs , Engineer's Office for Applied Spectroscopy TranSpec - Film Thickness Measurement and Plasma Monitoring

Home ] Up ] Schichtdickenmessung - Dickenprofil eines CD-Schutzlacks ] [ Schichtdickenmessung - Dickenprofil einer Diamantschicht ] Schichtdickenmessung auf Folienmaschinen ] Schichtdickenmessgerät ] TranSpec 2000 Software zur Schichtdickenmessung ] FTM-ProVis 2000 Software zur Schichtdickenmessung ]

3D-Schichtdickenprofil einer Diamantschicht

Dieses Bild zeigt das 3D-Schichtdickenprofil einer ca. 10 mm² großen Diamantschicht auf Silizium in einem Dickenbereich von ca. 800-1000 Nanometer. Jede Farbe in dem Bild umfasst einen relativen Dickenbereich von nur 12 Nanometer. Beachten Sie auch die Feinstrukturen auf dem Plateau der Diamantschicht!

Dieses Beipiel verdeutlicht die hohe Präzision unserer TranSpec-Schichtdickenmessgeräte.

WB00677_.gif (630 bytes) Zurück zur Home Page WB00678_.gif (615 bytes) Zurück zur Seite Schichtdickenmessung
 

This Website was edited last on February 12, 2008

© Copyright 1998-2008 by Thomas Fuchs, Engineer's Office for Applied Spectroscopy, Germany


Company: 

Ing.-Buero Thomas Fuchs

Street Address: 

Bischof-Fischer-Str. 108

Zip and City:  

73430 Aalen - Germany

Phone Number: 

+49  (0)7361 - 97 53 28 0

Fax Number: 

+49  (0)7361 - 97 53 28 5

E-Mail: 

sales@applied-spectroscopy.com

VAT-ID: 

DE 167178636

WEEE-Reg. No.: 

DE 93698084